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產(chǎn)品中心

Product Center

當前位置:首頁產(chǎn)品中心EMCLAB紫外/可見分光光度計EMC-NANO-UV紫外/可見分光光度計

紫外/可見分光光度計

產(chǎn)品簡介

紫外/可見分光光度計EMC-NANO-UV 為德國emclab制造,品質(zhì)*。所有儀器在交付時都將隨附已經(jīng) DAkkS* 校準過的標準物質(zhì),幾乎可為所有應用提供石英玻璃、光學玻璃、塑料等不同材質(zhì)的比色皿。

產(chǎn)品型號:EMC-NANO-UV
更新時間:2025-02-12
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
訪問量:2168
詳細介紹在線留言
品牌EMCLAB/德國自動程度自動波長
接收器類CMOS儀器結(jié)構(gòu)單光束
價格區(qū)間面議應用領(lǐng)域環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥

紫外/可見分光光度計 儀器特點:

EMC-NANO-UV

-樣品體積為 0.2~2.0µl的新型NANO比色皿 +10x10 mm比色皿托架

-簡單易用

-水平光路 - 無能量損耗

紫外/可見分光光度計 EMC-NANO-UV 詳細參數(shù):

Wavelength Range190-1100 nm

Spectral Bandwidth4 nm

Optical SystemSingle Beam, grating 1200 lines/mm

Wavelength Accuracy±0.5 nm

Wavelength Repeatability0.3 nm

Photometric Accuracy≤±0.5 % T or ±0.004A@1A

Photometric Range0-200 % T, -0.3 - 3A, 0-9999 Conc.

Scan SpeedHi, MED, LOW MAX: 3000nm/min

Stray Light0.05 % T@220, 340 nm

Stability±0.002A/h@500 nm

Baseline Flatness±0.002A (200-1000 nm)

Noise0.0005A@500 nm

DetectorSilicone Photodiode

DisplayLCD 320*240

Central beam height15 mm

Flip Cell Holder0.2~2.5 μl and cuvette 10 mm path length

Light SourceTungsten & Deuterium lamp

Power RequirementAC 110/220V 50/60 Hz

Dimensions(LxH) 490 x 370 x 220 mm

Weight14kg


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